您應(yīng)該了解的影像測量儀測量規(guī)范技術(shù)

惠州市七海檢測設(shè)備有限公司全球*儀器生產(chǎn)廠家海克思康計量集團(tuán)影像測量儀器的銷售公司，七海測量運用海克思康計量集團(tuán)的資源和技術(shù)優(yōu)勢,引進(jìn)先進(jìn)的機械,電子,測頭,新型控制技術(shù),軟件,傳感器等新技術(shù),加大研發(fā)投入,引入現(xiàn)代化國際化企業(yè)管理休系,為中國用戶提供*性價比,高效可靠的全新光學(xué)影像產(chǎn)品(二次元測量儀,三次元影像儀,影像測量儀),并提供*的售后服務(wù),同時也為全球光學(xué)影像市場注放新的產(chǎn)品

1999年在東莞設(shè)立影像測量儀研究中心，成為*家進(jìn)入中國內(nèi)地生產(chǎn)影像測量儀的國際專業(yè)品牌，“七海光電”曾多次獲得政府相關(guān)部門的科技與創(chuàng)新獎勵，并在影像測量技術(shù)方面取得了多項專利，一直以來在技術(shù)上領(lǐng)跑影像測量行業(yè)。其產(chǎn)品廣泛應(yīng)用在通信、電子、汽車、塑膠、機械加工等行業(yè)，并且能夠根據(jù)用戶的特定需求，快速提供用戶定制化的產(chǎn)品和解決方案，成為中國領(lǐng)先的影像測量機供應(yīng)商之一，不斷帶領(lǐng)中國影像測量行業(yè)屢創(chuàng)新高。

光學(xué)影像測量儀是集光學(xué)、機械、電子、計算機圖像處理技術(shù)于一體的高精度、高效率、高可靠性的測量儀器。由光學(xué)放大系統(tǒng)對被測物體進(jìn)行放大，經(jīng)過CCD攝像系統(tǒng)采集影像特征并送入計算機后，可高效地檢測各種復(fù)雜精密零部件的輪廓和表面形狀尺寸、角度及位置，進(jìn)行微觀檢測與質(zhì)量控制。

影像測量儀的測量規(guī)范

在工業(yè)測量中，影像測量儀的應(yīng)用非常廣泛，既可以滿足被測工件的抽檢，也可進(jìn)行工件的批量檢測。因此，越來越多的專業(yè)的機械制造商選擇影像測量儀對其產(chǎn)品進(jìn)行測量。而了解并掌握使用影像測量儀進(jìn)行測量時的要求，可以對*的測量各種工件起到事半功倍的效果！

首先，在使用影像測量儀進(jìn)行測量時，應(yīng)需對測量過程的一些基本要素提出要求，這也是整個測量行業(yè)需要遵循的規(guī)范。因為測量的目的在于獲得被測對象準(zhǔn)確的測量值，但在測量實踐中測量對象、測量工具、測量人員都存在較大的差別。為了保證測量精度和測量的準(zhǔn)確性，我們除了必須遵守儀器的測量規(guī)范和要求外，還要對整個測量過程中的如下各個要素進(jìn)行規(guī)范，做到測量過程可控：

a. 正確的測量：測量過程應(yīng)當(dāng)滿足已經(jīng)協(xié)議的并且進(jìn)行了良好定義的要求。

b. 正確的工具：應(yīng)當(dāng)采用經(jīng)論證適合于工作目的的、精度合適的設(shè)備和方法進(jìn)行測量。

c. 正確的人員：測量人員應(yīng)當(dāng)能勝任工作并了解所要做的工作目的。

d. 正確的過程：所有的測量的過程應(yīng)當(dāng)經(jīng)深思熟慮并與*或國際標(biāo)準(zhǔn)相一致。

e. 定期的回顧：應(yīng)當(dāng)由內(nèi)部及外部獨立的部門對所有測量設(shè)施和過程的技術(shù)性能做出評估。

f. 論證的一致性：在一個地方測量應(yīng)當(dāng)與在其他地方進(jìn)行測量一致。

影像儀、二次元、影像測量儀

影像儀、二次元、影像測量儀三者間是沒有什么區(qū)別。只是叫法不同而已。他們的學(xué)名是：影像測量儀。

利用光學(xué)成像，把物件外型數(shù)據(jù)導(dǎo)入電腦，然后通過軟件測量物件。影像測量儀主要是應(yīng)用在平面測量，即二次元測量，因而又叫二次元測量儀，簡稱二次元。

配合Z軸光柵尺，可進(jìn)行簡易的高度測量，故又叫2.5次元或非接觸式三次元，影像儀是影像測量儀的簡稱。

手動影像測量儀由于測量方便、無需編程，光柵尺直接計數(shù)，測量精度高，是目前影像測量儀中的支撐類型。自動影像測量儀是技術(shù)的高級階段，具有高度智能化與自動化特點。是影像儀的競爭方向。

自動影像測量儀是在數(shù)字化儀的基礎(chǔ)加上了基于機器視覺的自動邊緣提取、自動理匹去毛刺、自動測量合成，從而具有了自動測量、CNC走位、自動學(xué)習(xí)、批量測量等十分優(yōu)異的功能。同時，基于機器視覺的自動對焦，可以滿足于清晰造影下的輔助測高需要，亦可加入觸點測頭完成坐標(biāo)測高。